近日，第 26 届中国国际光电博览会（CIOE）在深圳国际会展中心圆满落幕。作为中国先进光谱技术领导者，复享光学在此次展会上携新品MetronFilm台式单点膜厚测量仪和多款核心产品重磅亮相，全面展示了光谱分析领域的深厚技术积累与创新成果，吸引了众多参观者的目光。
展会首日，复享光学正式发布新品：反射膜厚检测方案核心产品——MetronFilm台式单点膜厚测量仪。MetronFilm台式单点膜厚测量仪以高精度反射原理融合自研算法与完备材料库，非接触秒级解析单层到多层膜厚及关键光学常数（n&k）等关键信息，为半导体、光伏、显示、光镀膜提供高重复性、高精度的无损计量。
产品特点
✔ 1nm~260μm超广域量程范围
✔ 纳米级检测精度，经国际权威标准验证
✔ 针对膜厚场景优化光谱模块
✔ 多重智能算法，实现复杂多层膜解析
✔ 模块化灵活部署，极简高效
9月11日，在CIOE“光学半导体检测技术论坛”上，复享光学副总经理发表《深度光谱在微观加工制造的应用》主题演讲，分享基于深度光谱技术架构及AI算法的光学集成测控子系统解决方案。依托十余年在国产高端光谱仪市场的积累，复享光学将持续深耕集成原位测控系统解决方案，助力国产晶圆制造实现高质量自主可控，与上下游伙伴携手打造深度光谱联合创新生态，为中国半导体产业高质量发展注入“光”动能。
光学半导体检测技术论坛演讲现场
复享光学致力于为客户提供卓越的端到端一体化智能光学感知技术解决方案，在展会现场全面展示了最新光谱产品及技术解决方案。
CIOE 2025 圆满落幕，征程再启，复享光学将把CIOE收获的需求与灵感注入下一代光谱仪研发，围绕客户需求和行业痛点研发市场化的新产品，加速深度光谱技术架构AI算法迭代速度，同步扩大半导体制造光学检测产品Demo网络，为未来加入更多晶圆设备厂商验证做好准备，让国产高端动态计量光学子系统真正走进产线。
展会现场合影
